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深圳市鼎极天电子有限公司 
| 联系人：马琴 女士 (销售) |
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| 电 话：0755-27832900 |
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| 手 机：13826585417 |
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| 供应镀层测厚仪CMI900系列,X射线荧光测厚仪,X荧光测厚仪, |
应用
CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量 ，从质
量管理到成本节约有着广泛的应用。
行业
用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量。
技术参数
主要规格 规格描述
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 |
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| 深圳市鼎极天电子有限公司 |
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中国广东深圳市深圳市宝安区创业路25区福尔园建商务中心503 |
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518057 |
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